金属薄膜电阻温度系数测试系统-上海欣崇

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金属薄膜电阻温度系数测试系统

产品简介：针对金属薄膜在恒定的温度下测量其电阻值。采用四线制测试方法检测电阻变化。

一、测试系统特点

本系统针对金属薄膜在恒定的温度下测量其电阻值。采用四线制测试方法检测电阻变化。

二、导通电阻测试原理

导通电阻的测试方式是先对被测物体施加一个恒定直流电流、根据欧姆定律换算出电阻值；对于测试小电阻时，需要通过四线测试模式来达到在测试过程中消除引线电阻所带来的测试误差，该引线电阻会严重影响到测量的精度，由于测试引线上存在一定的电阻，再准确测量出该被测物上的电压，为此。

三、系统参数

电阻通道数	单通道
使用温度	500度，更高温度待验证
试验样品尺寸	长度5mm,10mm，根据夹具来确定
电阻测试	测试量程	1mΩ ～ 20kΩ
	测试精度	±0.1%+10uΩ(1A测试电流,1Ω标准电阻)
	最小分辨率	0.01mΩ
	测试速度	0.5秒/通道（最快）
	测试电流	0 – 1.00A
	消除误差	可自动消除温度及电磁干扰所产生的误差，消除DC及AC干扰偏压以维持高速量测时的优异性能
	参考电流	內部使用的参考电流可以自行设定大小及触发模式
	基准电阻	自动测量并设置
	測試上、下限	可分別任意设定
	超限报警	可设定
测试数据显示	可以图形化或以excel表格方式显示
数据存储	以文件形式自动保存
模组工作状态	每组工作状态均可以分别设置，独立运行
测试电缆	通过夹具固定安装
温度箱尺寸	500400400mm
容积	80L
加热形式	电阻丝加热

四、系统框图

说明：

1、样品压板，为四边压合，压合位置为2mm左右。中间为空，确保样品完全受热。

2、放置样品区、另配一个热电偶测温点，确保被测样品的温度达到预设要求，用于电阻的测量，为下凹型，放置被测样品，下端配有二个电阻测试点。

3、低温连接区，是消除热电势以及保护高温线与接线柱的连接。

4、高温连接端与外部电阻测量装置相连，用于测试电阻值。

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