离子迁移测试系统

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集成电路高温动态老化系统
产品简介： 适用于种封装形式的大、中、小规模数字、模拟 、数模混合集成电路、包括微处理器、逻辑电路 、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

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